熱電材料科研測試中，頻繁遇到數據重復性差、溫控上限不足、多種異型樣品無法裝夾的難題？華測儀器 HC-RD-1100 塞貝克系數電阻測試儀，提供解決塞貝克與電阻率測試新方案。

儀器配備室溫~1100℃寬溫域溫控系統，溫區規格可按需選配，搭配多氣氛氣路結構，提供惰性、氧化、還原、真空多氣氛環境，準確模擬材料高溫服役環境，避免樣品高溫氧化變質，適配高溫熱電陶瓷、多種半導體、熱電合金等塊狀試樣性能表征。

設備可一鍵同步完成塞貝克系數、電阻率兩項關鍵參數采集，同工位同步測試省去二次裝樣誤差；采用靜態直流法測定塞貝克，測量范圍為1~2500μV/K；四端法測試電阻率，測量范圍覆蓋 0.01~2×10⁵S/cm，可減少引線電阻、界面接觸電阻干擾，數據穩定性更強。

自研三明治可調樣品支架，探針間距支持 4/6/8mm 靈活切換，裝夾松緊可控，可適配圓柱形、棱柱形、圓盤狀等多種外形尺寸試樣，保障樣品接觸穩定性，減少測量誤差。

標配 Huace pro 智能測控軟件，支持測試參數設置、激勵信號調控、實時曲線采集與數據自動處理，全流程可視化操作，簡化試驗步驟，大幅優化批量試樣的檢測效率，是高校實驗室、新材料企業熱電性能評測設備。