離子遷移失效具備強隱蔽性，前期無明顯外觀變化，僅表現為絕緣電阻緩慢劣化，故障爆發無規律，電子組件長期可靠性難以量化管控。華測儀器絕緣電阻劣化（離子遷移）評估系統采用集成架構：恒溫恒濕環境倉 + 多通道電阻采集主機；工況準確復現：模擬 85℃/85% RH 濕熱疊加直流偏壓等復雜服役環境；全過程動態監測：長期持續加壓，實時存儲絕緣電阻變化數據，追溯失效演變過程。

高性能測試配置

通道能力：標準 128 單獨通道，可拓展 960 通道并行測試

測量量程：10?~101?Ω 全區間覆蓋，高低絕緣均可準確檢測

電壓定制：100V–1500V 直流測試電壓，適配多行業測試規范

耐久測試：支持1~1000小時不間斷連續老化

高速采集：2分鐘完成128 通道完整掃描，批量測試效率得到優化

多方面防護保障

搭載過壓、過流、過溫三重硬件保護，高壓測試全程逐通道實時監控；發生短路、過溫、漏電異常時系統自動切斷高壓，留存故障溯源數據，保障長時間無人值守老化測試過程穩定。

可完成絕緣材料、PCB 電路板、功率器件、封裝組件離子遷移可靠性驗證，縮短研發迭代周期，減少隱性失效，穩定產品出廠可靠性。