華測儀器 HCLD-2 低壓漏電起痕試驗儀是為固體絕緣材料耐漏電起痕性能檢測而設計，可準確測定材料相比電痕化指數（CTI）與耐電痕化指數（PTI），普遍應用電工塑膠、絕緣復合材料、電器零部件等材料性能評估。

設備搭載濾波、隔離、穩壓三重變壓器架構，可減少電網雜波干擾，保障長時間連續試驗工況下電壓輸出平穩，減少電壓漂移問題，降低電壓波動引發的試驗數據偏差，優化測試結果重復性與可靠性。

整機采用PLC控制系統，搭配12寸高清觸控操作屏，人機交互直觀便捷。試驗流程自動化，電解液滴液控制、試驗次數計數、漏電失效判定均可自動執行，減少人工操作干預，規避人為操作誤差。試驗電壓支持 25~1000V 寬范圍連續可調，適配多種絕緣材料標準測試需求。

設備內置防護體系，集成過壓、過流、漏電門限多重保護機制，一旦出現異常即刻觸發保護，保障儀器與操作過程穩定。同時具備完備的數據管理功能，支持試驗數據本地存儲、斷電自動存檔，還可一鍵保存試樣試驗圖像，完整留存試驗原始記錄，便于數據追溯與報告整理。

儀器依據相關絕緣材料測試標準設計，通過模擬表面電解液在電場作用下產生漏電起痕現象，客觀評價固體絕緣材料表面耐受漏電腐蝕的能力，是用于材料研發、來料檢驗、第三方檢測實驗室的可靠性測試設備。