Huace-DF500 高電場介電、損耗、漏電流測試系統(tǒng)由華測儀器開發(fā)，采用 AC DFR 介電頻率響應(yīng)測試原理與數(shù)字鎖相放大采集技術(shù)，可同步完成介電常數(shù)、介質(zhì)損耗、漏電流三項(xiàng)關(guān)鍵電學(xué)參數(shù)的同步采集與記錄，減少傳統(tǒng)多設(shè)備輪換測試帶來的接線誤差、時(shí)序錯(cuò)位問題，優(yōu)化測試重復(fù)性與工作效率。

系統(tǒng)測試頻率范圍 1mHz~10kHz；輸出電壓 0~500V 連續(xù)可調(diào)，升壓速率 150V/μs；配置高壓功率放大單元，支持交流、直流高壓激勵(lì)模式，支持用戶自定義輸出波形，模擬材料實(shí)際工況下的高電場激勵(lì)條件，實(shí)現(xiàn)高電場下介質(zhì)極化特性與漏電行為的測試表征。

系統(tǒng)可配套程控環(huán)境試驗(yàn)箱，采用液氮制冷方式，實(shí)現(xiàn)-80℃~230℃寬溫度區(qū)間的連續(xù)控溫，可開展恒溫、變溫、溫度循環(huán)條件下的介電性能測試，滿足絕緣材料、電介質(zhì)陶瓷、聚合物復(fù)合材料、功能薄膜等多種試樣的迭代、配方開發(fā)及可靠性評估的測試需求。