華測(cè)儀器HCLD-2塑料漏電起痕老化試驗(yàn)設(shè)備

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HCLD-2塑料漏電起痕老化試驗(yàn)設(shè)備由華測(cè)儀器生產(chǎn)，HCLD-2低壓漏電起痕試驗(yàn)儀由華測(cè)儀器生產(chǎn)是根據(jù)耐漏電起痕試驗(yàn)（電痕化指數(shù)試驗(yàn)）的標(biāo)準(zhǔn)，規(guī)定的模擬仿真試驗(yàn)項(xiàng)目。用以評(píng)價(jià)固體絕緣材料表面在電場(chǎng)和潮濕或污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的耐漏電性能，測(cè)定其相比電痕化指數(shù) (CTI) 和耐電痕化指數(shù)(PTI) 。電痕化是指固體絕緣材料在電應(yīng)力和電解雜質(zhì)的聯(lián)合作用下，在表面（或內(nèi)部）產(chǎn)生導(dǎo)電通道。

設(shè)備軟件

采用高度集成化設(shè)計(jì)，內(nèi)置智能測(cè)試軟件，操作簡(jiǎn)單，具備試驗(yàn)穩(wěn)定性，并有斷電資料保存功能，可實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)圖像的保存恢復(fù)，支持多種測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。

產(chǎn)品參數(shù)

試驗(yàn)電壓：100V~1000V（可定制）

控制方式：12寸觸摸屏控制系統(tǒng)

滴液高度：30~40mm 連續(xù)可調(diào)

試驗(yàn)電壓壓降：≤5%

電極距離：4.0mm±0.1mm，夾角 60°±5

電極壓力：1.0±0.05N(可調(diào))

滴液間隔時(shí)間：1s~999s

短接電流：1A

滴液大小：（20.0~23.0）mm³連續(xù)可調(diào)

試驗(yàn)終止：50滴或100滴或漏電流≥0.5A并維持時(shí)間≥2s