華測(cè)儀器Huace TEC-150TEC(帕爾貼)冷熱臺(tái)

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Huace TEC-150TEC(帕爾貼)冷熱臺(tái)由華測(cè)儀器生產(chǎn)，利用半導(dǎo)體熱電轉(zhuǎn)換特性為樣品提供可控高低溫環(huán)境，支持與顯微鏡、光譜儀等光學(xué)設(shè)備聯(lián)用，實(shí)現(xiàn)變溫過程中原位光學(xué)觀測(cè)與性能測(cè)試。無需制冷劑、無機(jī)械運(yùn)動(dòng)部件，解決傳統(tǒng)制冷設(shè)備振動(dòng)、需耗材、控溫響應(yīng)慢等問題，適用于對(duì)環(huán)境穩(wěn)定性要求高的測(cè)試場景。

主要技術(shù)指標(biāo)

設(shè)備型號(hào)：Huace TEC-150

冷熱方式：TEC (帕爾貼)

溫度范圍：-40℃~150℃

溫度穩(wěn)定性：± 0.1℃

升溫速率：0~30℃/min (可定點(diǎn)/程序段控溫)

降溫速率：0~30℃/min (可定點(diǎn)/程序段控溫)

載樣臺(tái)材質(zhì)：銅

載樣臺(tái)尺寸：40mm×40mm

光路：反射/透射 (可選配)

透射光路直徑：Φ2mm (可選配)

腔室：無 (開放式)

選配：定制水循環(huán)系統(tǒng)、定制軟件控溫系統(tǒng)等

應(yīng)用領(lǐng)域

材料科學(xué)

相變、熱膨脹、熱電性能研究

半導(dǎo)體與電子器件

溫控特性測(cè)試

光學(xué)與光譜學(xué)

拉曼、熒光、紅外光譜原位變溫測(cè)試

化學(xué)與催化反應(yīng)

變溫反應(yīng)過程觀測(cè)

教學(xué)與工業(yè)檢測(cè)

溫控環(huán)境下的質(zhì)量檢測(cè)