高溫直流測(cè)試系統(tǒng)-北京華測(cè)試驗(yàn)儀器有限公司

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絕緣材料測(cè)試儀器

表面電位衰減測(cè)試系統(tǒng)/測(cè)試儀絕緣材料電阻評(píng)價(jià)平臺(tái) 導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng) 電熱老化罐真空電熱老化測(cè)試系統(tǒng) 高阻計(jì) 擊穿電壓測(cè)定儀表面體積電阻率測(cè)試儀耐電弧測(cè)試儀高壓/漏電起痕試驗(yàn)儀低壓/漏電起痕試驗(yàn)儀導(dǎo)電與防靜電材料電阻率介電常數(shù)與介質(zhì)損耗測(cè)試儀高溫直流測(cè)試系統(tǒng)

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HGZL-1000華測(cè)高溫直流測(cè)試系統(tǒng) 直流絕緣電阻

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華測(cè)高溫直流測(cè)試系統(tǒng) 直流絕緣電阻主要用于材料高溫條件的直流絕緣電阻的測(cè)量，與軟件配合可實(shí)現(xiàn)常溫、變溫、恒溫等測(cè)試，升溫速度可調(diào)。采用紅外加溫，可實(shí)現(xiàn)真空、氣氛環(huán)境測(cè)試。溫度范圍為室溫~1000℃，全溫區(qū)穩(wěn)定精度±1℃，可輸出保存BMP、TXT、XLS等數(shù)據(jù)格式文件并且可對(duì)測(cè)量的數(shù)據(jù)提供查詢與分析功能。
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HGZL-1000高溫直流測(cè)試系統(tǒng)

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型號(hào)：HGZL-1000

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高溫直流測(cè)試系統(tǒng)主要用于材料高溫條件的直流絕緣電阻的測(cè)量，與軟件配合可實(shí)現(xiàn)常溫、變溫、恒溫等測(cè)試，升溫速度可調(diào)。采用紅外加溫，可實(shí)現(xiàn)真空、氣氛環(huán)境測(cè)試。溫度范圍為室溫~1000℃，全溫區(qū)穩(wěn)定精度＜1℃，可輸出保存BMP、TXT、XLS等數(shù)據(jù)格式文件并且可對(duì)測(cè)量的數(shù)據(jù)提供查詢與分析功能。
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HCDZ-20型直流低電阻測(cè)試儀系列

更新時(shí)間：2023-08-29

型號(hào)：HCDZ-20型

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直流低電阻測(cè)試儀系列采用四端測(cè)量法專門用于測(cè)量低直流電阻的儀器。該產(chǎn)品具有簡(jiǎn)便的比較功能，設(shè)定方便，顯示直觀?？蓮V泛用于測(cè)量各種線圈的電阻，電動(dòng)機(jī)、變壓器繞組的電阻，電纜的導(dǎo)線電阻，開關(guān)、插頭、插座等電器的接觸電阻和金屬鉚接電阻。
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HCDZ-20直流低電阻測(cè)試儀系列

更新時(shí)間：2023-08-29

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直流低電阻測(cè)試儀系列采用四端測(cè)量法專門用于測(cè)量低直流電阻的儀器。該儀器具有簡(jiǎn)便的比較功能，設(shè)定方便，顯示直觀。可廣泛用于測(cè)量各種線圈的電阻，電動(dòng)機(jī)、變壓器繞組的電阻，電纜的導(dǎo)線電阻，開關(guān)、插頭、插座等電器的接觸電阻和金屬鉚接電阻。
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高溫直流電阻率測(cè)試系統(tǒng)

更新時(shí)間：2025-09-18

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高溫直流電阻率測(cè)試系統(tǒng)HCGR-12KV： 1、采用超低紋波系數(shù)高壓直流電源，保證測(cè)試電壓的穩(wěn)定度。 2、采用保障試驗(yàn)人員及試驗(yàn)設(shè)備的； 3、采用吉時(shí)利6585皮安表采集電流，采集精度高，量程自動(dòng)跟隨與切換，可以實(shí)時(shí)采集電壓、電流、電阻曲線； 4、具備升壓、恒壓等功能于一體，對(duì)于研究常溫與高溫下材料的電阻率極為方便
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高溫直流電阻率測(cè)試系統(tǒng)HCGR-12KV-北京華測(cè)

更新時(shí)間：2023-08-29

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時(shí)間自由設(shè)定高溫直流電阻率測(cè)試系統(tǒng)

更新時(shí)間：2023-08-29

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時(shí)間自由設(shè)定高溫直流電阻率測(cè)試系統(tǒng)設(shè)備優(yōu)勢(shì)： 1、采用超低紋波系數(shù)高壓直流電源，保證測(cè)試電壓的穩(wěn)定度。 2、保障試驗(yàn)人員及試驗(yàn)設(shè)備的； 3、采用吉時(shí)利6585皮安表采集電流，采集精度高，量程自動(dòng)跟隨與切換，可以實(shí)時(shí)采集電壓、電流、電阻曲線； 4、具備升壓、恒壓等功能于一體，對(duì)于研究常溫與高溫下材料的電阻率極為方便；
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自動(dòng)歸零高溫直流電阻率測(cè)試系統(tǒng)

更新時(shí)間：2024-06-13

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自動(dòng)歸零高溫直流電阻率測(cè)試系統(tǒng)適合范圍： ●GB/T 10581-2006 絕緣材料在高溫下電阻和電阻率的試驗(yàn)方法 ●DL/T 810-2002 ±500kV直流棒形懸式復(fù)合絕緣子技術(shù)條件
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