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• 2026

  8-17
  高電位絕緣材料靜電檢測方案—HCEV-20kV 非接觸式靜電電壓表

  華測儀器HCEV-20kV非接觸式高壓靜電電壓表，依托自研場消測量技術實現(xiàn)無損非接觸電壓檢測，測量過程不擾動試樣原有電場、不損傷被測樣品。儀器測量量程覆蓋0至±20kV直流電或峰值交流電，適配多種高電位絕緣材料測試場景。區(qū)別于...

• 2026

  8-14
  場消式無損測量，華測儀器非接觸式靜電電壓表助力多行業(yè)靜電品質管控

  近日，華測儀器自主研發(fā)的HCEV系列非接觸式靜電電壓表憑借無損、高準度、高穩(wěn)定性的技術優(yōu)勢，普遍應用多行業(yè)場景，為工業(yè)靜電防控、產品品質管控、新材料科研測試提供解決方案，提供可靠測試支撐。在精細制造與新材料生產過程中，靜電是影響產品良率、暗...

• 2026

  8-14
  HC-PAX 多通道電流矩陣模塊｜多路微弱電流自動化測試平臺解決方案

  隨著半導體器件、微型傳感器、微電子元器件可靠性測試需求持續(xù)增長，批量樣品同步開展漏電、電流特性測試的場景越來越普遍。傳統(tǒng)單通道測試設備需要人工反復接線、輪換試樣，測試效率低下，難以滿足批量微弱電流并行采集需求。針對行業(yè)痛點，華測儀器推出HC...

• 2026

  8-13
  模擬濕熱偏壓工況！絕緣電阻劣化（離子遷移）綜合測試解決方案

  隨著電子器件持續(xù)向小型化、高密度集成方向發(fā)展，高溫高濕疊加電場作用引發(fā)的離子遷移、絕緣電阻衰減等問題愈發(fā)突出，對產品長期服役穩(wěn)定性構成挑戰(zhàn)。針對行業(yè)測試痛點，華測儀器推出絕緣電阻劣化（離子遷移）測試系統(tǒng)，可開展溫濕度偏壓、電化學遷移、表面絕...

• 2026

  8-13
  HCRD-300L 電弱點試驗儀：卷狀薄膜材料連續(xù)檢測方案

  高分子絕緣薄膜生產過程中形成的雜質、局部薄化等微觀問題，是影響高壓工況下局部電場畸變、介質擊穿與終端產品失效的關鍵誘因。華測儀器HCRD-300L系列電弱點試驗儀面向電容薄膜、鋰電池隔膜等卷材質檢需求，實現(xiàn)整卷卷材不間斷連續(xù)檢測，試樣無需提...

• 2026

  8-12
  HCMP 多通道介電電阻測試模塊：多通道并行測試解決方案

  華測儀器HCMP多通道介電電阻測試模塊，標配10路單獨測試通道，同時支持通道數量定制擴容，可同步開展多組試樣平行對照試驗，適合長期電熱老化試驗配套在線監(jiān)測，完成多試樣同步比對測試。模塊搭載高速光耦繼電器，通道切換時間低至1ms；通道之間絕緣...