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簡(jiǎn)要描述：華測(cè)儀器HCCT-40H多通道電容器溫度性能檢測(cè)系統(tǒng)通過(guò)準(zhǔn)確控制溫度環(huán)境，并測(cè)量電容器在不同溫度下的參數(shù)（如電容量（C）、損耗因子（D）和阻抗（Z）等參數(shù)值），從而評(píng)估其溫度特性。
產(chǎn)品型號(hào)：HCCT-40H廠(chǎng)商性質(zhì)：生產(chǎn)廠(chǎng)家更新時(shí)間：2026-05-29訪(fǎng) 問(wèn) 量：460產(chǎn)品分類(lèi)
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| 品牌 | 華測(cè)儀器 | 產(chǎn)地類(lèi)別 | 國(guó)產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,航空航天,汽車(chē)及零部件,電氣,綜合 |
HCCT-40H多通道電容器溫度性能檢測(cè)系統(tǒng)
價(jià)格僅供參考，如需獲取更詳盡的產(chǎn)品技術(shù)規(guī)格書(shū)、定制方案或應(yīng)用案例，歡迎致電我司技術(shù)工程師
HCCT-40H多通道電容器溫度性能檢測(cè)系統(tǒng)由華測(cè)儀器生產(chǎn)，是將環(huán)境試驗(yàn)箱與評(píng)估系統(tǒng)相結(jié)合，效率采集數(shù)據(jù)的自動(dòng)化多通道系統(tǒng)。儀器自動(dòng)評(píng)估高溫和高溫/高濕環(huán)境下電容器的絕緣退化特性。該系統(tǒng)穩(wěn)定可靠，適用于包括MLCC、陶瓷電容、薄膜電容等多種類(lèi)型的電容器。
產(chǎn)品參數(shù)
測(cè)量項(xiàng)目：電容量 (C)、損耗系數(shù) (D)、阻抗 (Z)、電阻 (Rs，Rp) 和電感 (Ls，Lp)
測(cè)試方法：溫度特性評(píng)價(jià)試驗(yàn)（相對(duì)于溫度的變化）
恒定運(yùn)行檢測(cè)（相對(duì)于檢測(cè)時(shí)間的變化）
頻率特性評(píng)價(jià)試驗(yàn) （相對(duì)于頻率的變化）
通道配置：8通道（標(biāo)準(zhǔn)）；至多到64通道
測(cè)量方法：交流四端對(duì)測(cè)量
測(cè)量范圍：測(cè)量頻率：20 Hz~1MHz
電容量(C)：50pF~5mF
損失因子(D)：0.00001~9.99999
阻抗(Z)：0.00001Ω~99.9999 MΩ
測(cè)量?jī)x器：LCR表（可按需選擇型號(hào)）
直流偏壓：0~±40V
溫度測(cè)量間隔：1 ℃
掃描周期：64通道可在1min之內(nèi)完成
頻率步長(zhǎng)：201步（范圍可定制）
補(bǔ)償：短時(shí)補(bǔ)償，開(kāi)放補(bǔ)償
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