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簡要描述：華測儀器HCCT-40H電容器溫度 - 頻率特性評估系統(tǒng)可從不同測試模式選擇溫度特性評價試驗、恒定運行試驗和頻率特性試驗。測試可與溫度特性評價測試或恒定運行測試相合。
產(chǎn)品型號：HCCT-40H廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時間：2026-05-29訪 問 量：455產(chǎn)品分類
Product Category詳細介紹
| 品牌 | 華測儀器 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 能源,航空航天,汽車及零部件,電氣,綜合 |
華測儀器HCCT-40H電容器溫度 - 頻率特性評估系統(tǒng)
價格僅供參考，如需獲取更詳盡的產(chǎn)品技術(shù)規(guī)格書、定制方案或應用案例，歡迎致電我司技術(shù)工程師
HCCT-40H電容器溫度 - 頻率特性評估系統(tǒng)由華測儀器生產(chǎn)，是將環(huán)境試驗箱與評估系統(tǒng)相結(jié)合，效率采集數(shù)據(jù)的自動化多通道系統(tǒng)。儀器自動評估高溫和高溫/高濕環(huán)境下電容器的絕緣退化特性。該系統(tǒng)穩(wěn)定可靠，適用于包括多層陶瓷電容器（MLCC）、陶瓷電容、薄膜電容等多種類型的電容器。
產(chǎn)品優(yōu)勢
1、可從不同測試模式選擇
溫度特性評價試驗、恒定運行試驗和頻率特性試驗。測試可與溫度特性評價測試或恒定運行測試結(jié)合。
溫度特性評估測試：在此測試模式下，自動記錄特性數(shù)據(jù)，與溫度變化同步，頻率步數(shù)201步（范圍可定制）；
持續(xù)運行測試：測試模式測量以下參數(shù)的變化特定中隨時間推移的特征自動記錄數(shù)據(jù)；
頻率特性評價試驗：試驗模式在特定溫度環(huán)境下改變頻率的同時，自動記錄不同頻率下的特性數(shù)據(jù)。
2、多種可選夾具適用于不同的試驗樣本（可選）
除了SMD組件的夾具外，根據(jù)提供離散設備形狀定制的夾具。
產(chǎn)品參數(shù)
測量方法：交流四端對測量
直流偏壓：0~±40V
溫度測量間隔：1 ℃
掃描周期：64通道可在1min之內(nèi)完成
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